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Etudes par Microscopie à force atomique d’auto-association de brins d’ADN et de leur application en électronique

Novembre 1999 - Aout 2000

sous la direction des professeur T. Kawai et T. Matsumoto
Kawai lab.
Institute of scientific and industrial research,
Sanken, Osaka University,Mihogaoka 8-1, Ibaraki,
Osaka 567-0047, Japan


Résumé :

Ce stage post-doctoral s’inscrit dans la continuité de ma formation aux techniques d’analyses microscopiques. J'ai développé  plusieurs projets en parallèle.

Un premier projet concerne l’étude d’ADN (acide désoxyrybonucléique) contenant des parties simple brin et des parties double brins, le but étant de différencier chaque partie par microscopie à force atomique (taping mode et non-contact mode). Les parties simple brin ayant tendance à s’agréger entre elles, la mise au point d’un protocole particulier a permis de déposer sur du mica les brins d’ADN démêlés. La localisation des parties simple et double brins est visible sur l'image ci dessous. Cette étude peut avoir une application directe pour la détermination visuelle de la position d’un gène sur un chromosome.
 

Image en microscopie à force atomique d’une molécule d’ADN simple brin circulaire (M13) associée à un simple brin complémentaire de 2000 bases 


 

Un second projet a consisté à simuler la déposition de brins d'ADN sur une surface de mica pour comprendre les mecanismes de depots.

Un troisieme projet a consisté a sonder diverses tchniques de nanolithographie en vue de réaliser un dépot controlé d'ADN sur des lignes de moins de 20 nm de larges.

D'autres projets, notament l'utilisation de nanoparticules greffees à l'ADN pour réaliser des brins infinis conducteurs n'ont pas aboutis à des résultats exploitables.


page modifiée le 05/02/2006